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主营产品:rohs检测仪器 萤光x-ray膜厚计 精密型电解式膜厚计 盐水喷雾试验机 涂层测厚仪 硬度计 材料实验机 镀层测厚仪 光泽度计 恒温恒湿机 冷热冲击试验机
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扫描开尔文探针系统

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扫描开尔文探针 扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势,表面功函由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术,kp technology公司目前可提供具有1-3 mev业界高分辨率的测试系统 主要特点: ● 功函分辨率< 3mev ● 扫描面积:5mm to 300mm(四种型号,每种型号扫描面积不同) ● 扫描分辨率:317.5nm ● 自动高度调节 应用领域: ● 有机和非有机半导体 ● 金属 ● 薄膜 ● 太阳能电池和有机光伏材料 ● 腐蚀 升级附件: ● 空气光发射系统 ● 表面光电压(qth or led) ● sps表面光电压光谱(400-1000nm) ● 金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm ● 相对湿度控制和环境箱
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